Description

Ce microscope précis sert pour la nanotechnologie.

On peut utiliser les techniques de caractérisation des matériaux suivantes :

  • Microscopie à force atomique sans contact
  • Microscopie à force atomique avec contact
  • Microscopie à force latérale
  • Imagerie de phase
  • Piquage intermittent
  • Microscopie à force atomique conductrice
  • Spectroscopie courant-tension
  • Microscopie à sonde de Kelvin
  • Microscopie à force électrostatique, y compris par contact dynamique (DC-EFM), et microscopie à force piézoélectrique

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Image du microscope à force atomique Park NX10.